Спектроскопический сканирующий рефлектометр Sentech (Германия)


Установка предназначена для контроля толщины однослойных и многослойных покрытий, определения оптических констант однослойных и многослойных покрытий в диапазоне длин волн от 430 до 930 нм, контроля равномерности толщины анализируемого покрытия.

Основные характеристики и возможности:
  • спектральный диапазон: 430 – 930 нм;
  • диапазон измеряемых толщин: от 20 нм до 50 мкм;
  • диаметр светового пятна: 80 мкм;
  • точность измерения: 1 нм;
  • погрешность измерения (1σ): не хуже 0.3 нм;
  • время измерения: от 300 мс;
  • моторизованный стол для измерений по программе.
Последние события ФМН