Методики измерений/исследований


№ п/п

Наименование методики

Методика аттестована (+/-)

1.

Методика измерения параметра среднего квадратического отклонения высоты шероховатости политетрафторэтилена (ПТФЭ) после плазмо- химической модификации на поверхности с помощью зондового атомно- силового микроскопа

+

2.

Методика измерения химических связей политетрафторэтилена (ПТФЭ) после плазмо-химической модификации на поверхности с помощью спектрометра комбинационного рассеяния

+

3.

Методика исследования влияния плазмо-химической модификации политетрафторэтилена (ПТФЭ) на химические связи поверхности (ПТФЭ) с помощью ИК-спектральной эллипсометрии

+

4.

Методика определения параметра дефектности поверхности строения кристаллической структуры поверхности материалов на основе кремния

+

5.

Методика определения потери массы и содержание летучих конденсирующихся веществ при вакуумно-тепловом воздействии

+

6.

Методика определения параметров наличия капельной фазы покрытий методом электронной микроскопией

-

7.

Методика исследования диффузии кремния в структурах на основе GaAs методом ИК-спектральной эллипсометрии

+

8.

Методика исследований термоэлектрических модулей (ноу-хау)

+

9.

Методика экспериментального исследования деградационных явлений в многослойных наноразмерных полупроводниковых резонансно-туннельных гетероструктурах

+

10.

Методика гранулометрического анализа нано- и микроразмерных порошков и суспензий методом лазерной дифракции

+

11.

Методика определения оптических констант углеродных алмазоподобных покрытий методом ИК-спектральной эллипсометрии

+

12.

Методика исследования морфологии и шероховатости поверхности методом атомно-силовой микроскопии

+

13.

Методика первичной (периодической) аттестации установки термовакуумных испытаний «Термовакуумная камера на базе климатической установки VTU75/100»

+

14.

Методика первичной (периодической) аттестации установки термовакуумных испытаний «Термовакуумная камера на базе климатической установки УТВТ-1 км»

+

15.

Методика первичной (периодической) аттестации установки термовакуумных испытаний "Термовакуумная камера на базе климатической установки УТВТ-14КМ"

+

16.

Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа

+

17.

Микроскопы сканирующие зондовые семейств Solver и Ntegra (методика поверки)

+

18.

Определение гранулометрического состава порошковой краски. Метод лазерной дифракции

-

19.

Псевдоголографическая поляризационная спекл-интерферометрия

+

20.

Подача рабочего вещества в генератор плазмы с использованием светоотверждаемых полимерных композиций

+

21.

Подача рабочего вещества в генератор плазмы с использованием ферромагнитных жидкостей

+

22.

Квадратурная интерферометрия объектов с нестационарной фазовой неоднородностью

+

23.

Фемтосекундный флэш-фотолиз органических соединений

+

24.

Измерение энергетического порога лазерной абляции

+

25.

Определение энергетических порогов повреждения прозрачных диэлектриков

+

26.

Спектрально-энергетическая калибровка спектрометров

+

Последние события ФМН
В НОЦ ФМН созданы сверхпроводниковые кубиты-трансмоны мирового  уровня с временем когерентности в 50 микросекунд
В НОЦ ФМНС созданы сверхпроводниковые кубиты‑трансмоны мирового уровня с временем когерентности в 50 микросекунд
Инженеры и ученые МГТУ им. Н.Э. Баумана и ФГУП «ВНИИА» ГК «Росатом» на базе совместного НОЦ «Функциональные Микро/Наносистемы» (НОЦ ФМН), в кооперации с учеными ИФТТ РАН, МИСиС, МФТИ, РКЦ и НГТУ, разработали технологию создания сверхпроводниковых кубитов со «временем жизни» на уровне 50 микросекунд. Полученные результаты не уступают параметрам квантовых процессоров лучших мировых аналогов от IBM, Google, Intel. Это важнейший шаг на пути к созданию российского универсального квантового компьютера. Ключевые игроки зарождающегося рынка квантовых вычислений выбрали в качестве технологической платформы именно сверхпроводниковые кубиты.
Визит делегации концерна Carl Zeiss и холдинга ОПТЭК
Визит делегации концерна Carl Zeiss и холдинга ОПТЭК
3 ноября прошла встреча с руководством концерна Carl Zeiss и холдинга ОПТЭК. В составе делегации - T. Spitzepfeil – член совета правления концерна, U. Hoffmann – член совета правления концерна, M. Hubensack – президент Zeiss Meditec, J. Novoa – руководитель развития сети региональных партнеров Carl Zeiss Microscopy, G. Bauhammer – менеджер по развитию бизнеса Carl Zeiss Microscopy в РФ, О. Середкина – генеральный директор ООО «ОПТЭК», М. Игельник – управляющий холдинга OPTEC Group, Николас фон Корфф – финансовый директор холдинга OPTEC Group, В. Власенко – директор департамента научного и промышленного материаловедения ООО ОПТЭК, А. Ульяненков – директор департамента междисциплинарных проектов.
Отмечаем год эффективного сотрудничества компании «Маппер» и НОЦ ФМН
Отмечаем год эффективного сотрудничества с компанией «Маппер»
Сложившееся взаимодействие является взаимным – за прошедший год эффективного сотрудничества организации неоднократно «обменялись» заказами на изготовление уникальных изделий и технологических операций...