Новая статья в "Optics Communications"

11 октября 2019 года
«Восстановление диэлектрической проницаемости тонкой серебряной пленки с помощью резонансного подхода» 
В статье рассмотрен метод измерения оптических параметров пленки на основе конфигурации Отто. Проведенные исследования продемонстрировали высокую чувствительность метода по сравнению с эллипсометрией. 
Предложен новый метод измерения оптических свойств тонких и ультратонких металлических пленок, а также точного анализа данных. Дело в том, что при малых толщинах тонких пленок (начиная с 50нм) точное определение их оптических параметров становится крайне нетривиальной задачей. При этом данные необходимы для моделирования сложных устройств на основе новых физических принципов. Стандартные методы эллипсометрии не дают такой возможности, так как возникающая ошибка измерений уже становится хуже точности, обеспечиваемой технологическими процессами. 
Исследования команды продемонстрировали, что эллипсометрические углы отражения в конфигурации Отто могут быть использованы для восстановления параметров пленки. Рассмотренный метод позволяет восстанавливать оптические характеристики без дополнительных предположений о диэлектрической проницаемости и является надежной самосогласованной измерительной процедурой. 
The retrieval of a thin silver film dielectric constant.jpg

Данные публикации: 
The retrieval of a thin silver film dielectric constant by resonant approach 
R.S. Puzko, A.I. Ivanov, E.S. Lotkov, I.A. Rodionov, I.A. Ryzhikov, A.V. Baryshev, A.M. Merzlikin 
Optics Communications 456, 124636, 2020 (ImF 2.125)
Все новости
Новая статья в Coatings Опубликована работа
Новая статья в Coatings
В НОЦ ФМН созданы серебряные пленки, улучшающие свойства с течением времени. Материал найдет применение в области нанофотоники, оптики, квантовых вычислений и коммуникаций.