Research
Research

Publications

Publications
МОДИФИКАЦИЯ ПОВЕРХНОСТИ СИНТЕТИЧЕСКОЙ ОПАЛОВОЙ МАТРИЦЫ ВАКУУМНЫМИ МЕТОДАМИ
2012
МОДИФИКАЦИЯ ПОВЕРХНОСТИ СИНТЕТИЧЕСКОЙ ОПАЛОВОЙ МАТРИЦЫ ВАКУУМНЫМИ МЕТОДАМИ
НАНОИНЖЕНЕРИЯ , № 1
Authors
ПРИМЕРЫ РАСЧЕТА СФЕРИЧЕСКОЙ АЭРОСТАТИЧЕСКОЙ ОПОРЫ С УЧЕТОМ СМЕЩЕНИЙ И СКОРОСТИ ШПИНДЕЛЯ
ПРИМЕРЫ РАСЧЕТА СФЕРИЧЕСКОЙ АЭРОСТАТИЧЕСКОЙ ОПОРЫ С УЧЕТОМ СМЕЩЕНИЙ И СКОРОСТИ ШПИНДЕЛЯ
Пошехонов Р.А.

Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана: электрон. научно-техническое изд. М. 2012.
Authors
Расчет сферических аэростатических опор при заданном смещении и скорости шпинделя
Расчет сферических аэростатических опор при заданном смещении и скорости шпинделя
Пошехонов Р.А.

Наука и образование. МГТУ им. Н.Э. Баумана. Электрон. журн. 2012. № 10
Authors
Исследование наноструктурных сцинтилляционных материалов с использованием источника синхротронного излучения
Исследование наноструктурных сцинтилляционных материалов с использованием источника синхротронного излучения
Литвак Ю.Н., Михалев П.А., Макеев М.О., Панфилов Ю.В., Потловский К.Г.

Издательство: Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана (Москва), Наука и образование: научное издание МГТУ ИМ. Н.Э. БАУМАНА № 12 (2012)
Authors
Исследование сцинтилляционных свойств наноструктурных детекторов
Исследование сцинтилляционных свойств наноструктурных детекторов
Панфилов Ю.В., Михалев П.А., Литвак Ю.Н., Булынко А.В.

Издательство: Издательский дом "Наука образования" (Москва), НАУЧНОЕ ОБОЗРЕНИЕ №5 (2012)
Authors
Исследование деградации изоляционных материалов космического назначения с защитными газонепроницаемыми слоями под воздействием факторов открытого космоса
Исследование деградации изоляционных материалов космического назначения с защитными газонепроницаемыми слоями под воздействием факторов открытого космоса
Михалев П.А., Макеев М.О., Литвак Ю.Н., Башков В.М., Осипков А.С.

Издательство: Московский технологический университет (МИРЭА) (Москва), Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения том 12 №2 (2012)
Authors
Сцинтилляционные свойства наноструктурных материалов для композиционных детекторов ионизирующих излучений
Сцинтилляционные свойства наноструктурных материалов для композиционных детекторов ионизирующих излучений
Астахов М.В., Панфилов Ю.В., Селезнев В.В., Литвак Ю.Н., Михалев П.А., Макеев М.О.

Научно-техническое издательство "Машиностроение" (Москва), Наноинженерия № 1 (2012)
Authors
Разработка стенда для исследования стойкости материалов к воздействию факторов космического пространства
Разработка стенда для исследования стойкости материалов к воздействию факторов космического пространства
Янович С.В., Литвак Ю.Н., Михалев П.А., Башков В.М.

Издательство: Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана (Москва), Инженерный вестник № 11 (2012)
Authors
ИССЛЕДОВАНИЕ ДЕГРАДАЦИИ ИЗОЛЯЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ КОСМИЧЕСКОГО НАЗНАЧЕНИЯ С ЗАЩИТНЫМИ ГАЗОНЕПРОНИЦАЕМЫМИ СЛОЯМИ ПОД ВОЗДЕЙСТВИЕМ ФАКТОРОВ ОТКРЫТОГО КОСМОСА
ИССЛЕДОВАНИЕ ДЕГРАДАЦИИ ИЗОЛЯЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ КОСМИЧЕСКОГО НАЗНАЧЕНИЯ С ЗАЩИТНЫМИ ГАЗОНЕПРОНИЦАЕМЫМИ СЛОЯМИ ПОД ВОЗДЕЙСТВИЕМ ФАКТОРОВ ОТКРЫТОГО КОСМОСА
Михалев П.А., Макеев М.О., Литвак Ю.Н., Башков В.М., Осипков А.С.

Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения
Authors
ПРОЕКТИРОВАНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ НАНОСИСТЕМ
2011
ПРОЕКТИРОВАНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ НАНОСИСТЕМ
Макарчук В.В., Родионов И.А.

Учебно-методический комплекс для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 5
Authors
АВТОМАТИЗИРОВАННОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ НАНОСИСТЕМ
АВТОМАТИЗИРОВАННОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ НАНОСИСТЕМ
Власов А.И., Зинченко Л.А., Макарчук В.В., Родионов И.А.

Учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 13
Authors
МЕТОДЫ ЛИТОГРАФИИ В НАНОИНЖЕНЕРИИ
МЕТОДЫ ЛИТОГРАФИИ В НАНОИНЖЕНЕРИИ
Макарчук В.В., Родионов И.А., Цветков Ю.Б.

Учебно-методический комплекс для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 8
Authors
ПРОЕКТИРОВАНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ НАНОСИСТЕМ
ПРОЕКТИРОВАНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ НАНОСИСТЕМ
Макарчук В.В., Родионов И.А.

Учебно-методический комплекс для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 5
Authors
АВТОМАТИЗИРОВАННОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ НАНОСИСТЕМ
АВТОМАТИЗИРОВАННОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ НАНОСИСТЕМ
Власов А.И., Зинченко Л.А., Макарчук В.В., Родионов И.А.

Учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 13
Authors
МЕТОДЫ ЛИТОГРАФИИ В НАНОИНЖЕНЕРИИ
МЕТОДЫ ЛИТОГРАФИИ В НАНОИНЖЕНЕРИИ
Макарчук В.В., Родионов И.А., Цветков Ю.Б.

Учебно-методический комплекс для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 8
Authors
Исследование процессов газовыделенияпленкоосаждения неметаллических материалов при термовакуумном воздействии методами нанодиагностики
Исследование процессов газовыделенияпленкоосаждения неметаллических материалов при термовакуумном воздействии методами нанодиагностики
Бодин В.В., Башков В.М., Михалев П.А.

Научно-техническое издательство "Машиностроение" (Москва), Наноинженерия № 3 (2011)
Authors
Методика ускоренных испытаний для оценки газовыделения материалов космического назначения с использованием методов нанодиагностики
Методика ускоренных испытаний для оценки газовыделения материалов космического назначения с использованием методов нанодиагностики
Литвак Ю.Н., Макеев М. О., Михалев П.А., Башков В.М.

Научно-техническое издательство "Машиностроение" (Москва), Наноинженерия № 6 (2011)
Authors
Использование метода ИК-спектроэллипсометрии для определения толщины слоя образца ПТФЭ, модифицированного в разряде постоянного тока
Использование метода ИК-спектроэллипсометрии для определения толщины слоя образца ПТФЭ, модифицированного в разряде постоянного тока
Макеев М.О., Иванов Ю.А., Мешков С.А., Гильман А.Б., Яблоков М.Ю.

Химия Высоких Энергий. 2011. Т. 45, № 6. С. 574?576
Authors
Application of IR ellipsometry to determination of the film thickness of a polytetrafluoroethylene sample modified in direct-current discharge
Application of IR ellipsometry to determination of the film thickness of a polytetrafluoroethylene sample modified in direct-current discharge
M.O. Makeev, Yu.A. Ivanov, S.A. Meshkov, A.B. Gil’man and M.Yu. Yablokov

High Energy Chemistry. 2011. V. 45, N. 6. P. 536-538
Authors
Исследование методов калибровки процессных OPC моделей VT-5 с переменным порогом чувствительности
2010
Исследование методов калибровки процессных OPC моделей VT-5 с переменным порогом чувствительности
Родионов И.А.

Микроэлектроника. 2010. Том 39, № 6, с. 468–480.
Authors
More
News