Публикации

АВТОМАТИЗИРОВАННОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ НАНОСИСТЕМ

2011

Власов А.И., Зинченко Л.А., Макарчук В.В., Родионов И.А.

Учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 13

Авторы

МЕТОДЫ ЛИТОГРАФИИ В НАНОИНЖЕНЕРИИ

Макарчук В.В., Родионов И.А., Цветков Ю.Б.

Учебно-методический комплекс для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 8

Авторы

ПРОЕКТИРОВАНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ НАНОСИСТЕМ

Макарчук В.В., Родионов И.А.

Учебно-методический комплекс для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 5

Авторы

АВТОМАТИЗИРОВАННОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ НАНОСИСТЕМ

Власов А.И., Зинченко Л.А., Макарчук В.В., Родионов И.А.

Учебное пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 13

Авторы

МЕТОДЫ ЛИТОГРАФИИ В НАНОИНЖЕНЕРИИ

Макарчук В.В., Родионов И.А., Цветков Ю.Б.

Учебно-методический комплекс для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению 152200 "Наноинженерия". В 17 книгах / Москва, 2011. Сер. Библиотека "Наноинженерия" Том Книга 8

Авторы

Исследование процессов газовыделенияпленкоосаждения неметаллических материалов при термовакуумном воздействии методами нанодиагностики

Бодин В.В., Башков В.М., Михалев П.А.

Научно-техническое издательство "Машиностроение" (Москва), Наноинженерия № 3 (2011)

Авторы

Методика ускоренных испытаний для оценки газовыделения материалов космического назначения с использованием методов нанодиагностики

Литвак Ю.Н., Макеев М. О., Михалев П.А., Башков В.М.

Научно-техническое издательство "Машиностроение" (Москва), Наноинженерия № 6 (2011)

Авторы

Использование метода ИК-спектроэллипсометрии для определения толщины слоя образца ПТФЭ, модифицированного в разряде постоянного тока

Макеев М.О., Иванов Ю.А., Мешков С.А., Гильман А.Б., Яблоков М.Ю.

Химия Высоких Энергий. 2011. Т. 45, № 6. С. 574?576

Авторы

Application of IR ellipsometry to determination of the film thickness of a polytetrafluoroethylene sample modified in direct-current discharge

M.O. Makeev, Yu.A. Ivanov, S.A. Meshkov, A.B. Gil’man and M.Yu. Yablokov

High Energy Chemistry. 2011. V. 45, N. 6. P. 536-538

Авторы

Исследование методов калибровки процессных OPC моделей VT-5 с переменным порогом чувствительности

2010

Родионов И.А.

Микроэлектроника. 2010. Том 39, № 6, с. 468–480.

Авторы

Расчет значений весовых коэффициентов топологических структур для калибровки литографических моделей

Родионов И.А., Шахнов В.А.

Вестник МГТУ им. Н.Э.Баумана. Секция: Приборостроение. 2010. Спец. выпуск: Наноинженерия. С. 150-160.

Авторы

МОДЕЛИРОВАНИЕ СИЛОВЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ШПИНДЕЛЯ НА СФЕРИЧЕСКИХ АЭРОСТАТИЧЕСКИХ ОПОРАХ

Пошехонов Р.А., Гуськов А.М.

XXII Международная Инновационно-ориентированная конференция молодых учёных и студентов МИКМУС-2010. Матер. конф.

Авторы

МЕТОДИКА ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙ ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МОДУЛЕЙ НА ОСНОВЕ РЕГИСТРАЦИИ СИГНАЛОВ АКУСТИЧЕСКОЙ ЭМИССИИ С ЦЕЛЬЮ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА ИХ СБОРКИ

Барзов А.А., Осипков А.С., Шашурин В.Д.

Сборка в машиностроении, приборостроении

Авторы

МЕХАНИЧЕСКАЯ ПРОЧНОСТЬ ВЕТВЕЙ ТЕРМОЭЛЕМЕНТОВ НА ОСНОВЕ ВІ2ТЄ3 ПРИ РАЗЛИЧНЫХ МЕТОДАХ ИХ ПОЛУЧЕНИЯ

Воронин А.И., Осипков А.С., Горбатовская Т.А.

Нано- и микросистемная техника

Авторы

ПРОБЛЕМЫ ОБЕСПЕЧЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МОДУЛЕЙ СИСТЕМ ОХЛАЖДЕНИЯ РАДИОЭЛЕТРОННЫХ СРЕДСТВ

Осипков А.С., Горбатовская Т.А.

Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения

Авторы

Оптимизация плотности заполнения топологии слоев СБИС, направленная на повышение стабильности технологического процесса химико-механической планаризации.

2009

Амирханов А.В., Волков С.И., Гладких А.А., Демин С.В., Родионов И.А., Столяров А.А.

Математическое и компьютерное моделирование систем: теоретические и прикладные аспекты - Сборник научных трудов НИИСИ РАН, 2009, c. 50 – 55.

Авторы

Особенности топологического проектирования субмикронных КМОП СБИС с учетом литографических ограничений.

Демин С.В., Амирханов А.В., Михальцов Е.П., Родионов И.А., Тафинцева Е.В.

Математическое и компьютерное моделирование систем: теоретические и прикладные аспекты - Сборник научных трудов НИИСИ РАН, 2009, c. 24-31.

Авторы

Проектирование СБИС с учетом возможностей технологического процесса.

Родионов И.А.

11-ая Молодежная международная научно-техническая конференция «Наукоемкие технологии и интеллектуальные системы 2009». 15 апреля 2009 г. – М.: издательство МГТУ им. Н.Э.Баумана, 2009, с. 135-137.

Авторы

Конспект лекций по курсу «ТОПОЛОГИЧЕСКОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»

Макарчук В.В., Родионов И.А.

Библиотека Наноинженерии. – М.: МГТУ им. Н.Э.Баумана, 2009. – 87с.: ил.

Авторы

Методические рекомендации по курсу «ТОПОЛОГИЧЕСКОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»

Макарчук В.В., Родионов И.А.

Библиотека Наноинженерии. – М.: МГТУ им. Н.Э.Баумана, 2009. – 33с.: ил.

Авторы