Сверхвысоковакуумный атомно-силовой микроскоп JSPM-4610А, JEOL (Япония)

 
Прибор предназначен для сверхвысоковакуумных исследований свойств поверхности зондовыми методами с ультравысоким разрешением, в том числе в области сверхнизких температур.

Основные характеристики и возможности:
  • разрешение СТМ, АСМ – атомарное (на стандартных образцах Si);
  • диапазон сканирования – XY – 3x3 мкм, Z – 2 мкм;
  • измерение туннельного тока – от 30 пА до 1 мкА;
  • диапазон измерения сил – от 10 пН до 10 нН;
  • система ионной очистки – Ar и др. газы;
  • система охлаждения образца – до 50 К;
  • осаждение пленок туго- и легкоплавких металлов in-situ (Au, Ag, Cu, Al, Ti, W и др.).
Последние события ФМН